苏州卡利肯新光讯携铝膜样品来访，M-3设备高效完成铝膜方阻测试
近日，苏州卡利肯新光讯科技有限公司技术人员携带铝膜样品来到我公司，希望借助我司M-3手持式电阻率测试仪快速完成铝膜方阻测试。
M-3手持式四探针测试仪，方阻测量范围达0.05Ω/□～100kΩ/□，完全覆盖铝膜等低阻金属膜的测试需求；同时支持电阻率测量（0.01Ω·cm～20kΩ·cm），内置锂电池，可充电、免外接电源，真正实现“拿起来就测”。别看它小，精度一点也不低，0.5%的测试精度跟台式机是一样的，所以只要您材料的阻值范围在仪器的测量范围内，都是可以测的，操作起来也是特别简单，特别适合车间巡检、来料抽检等移动场景。
测试过程中，因为样品表面是弧形的，客户担心探针跟铝膜的接触不好，我们的技术人员王工介绍道：“探针是有弹性回弹的，可自由伸缩，可以很好地贴合样品表面，所以不存在接触不好的问题。”客户现场对比多个点位数据，对于测试结果还是比较满意的：“比我们想象中更精准，也更方便。”
凭借出色的精度、稳定性与便携性，M-3手持式四探针测试仪赢得客户高度认可。对方当场表达了明确采购意向，计划引入该设备用于日常金属膜方阻测试。
作为一款专业的手持式四探针测试仪，M-3正成为越来越多光电、半导体及柔性电子企业的移动质检工具。
