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苏州晶格电子有限公司吴江分公司
Suzhou Lattice Electronics Co., LTD. Wujiang Branch
材料电阻率、方块电阻测量相关国标、行标制定主要参与者
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非晶硅太阳能极片方阻测试遇干扰?一个纸箱巧解难题

日期:2026/5/20 10:54:33 人气:30

非晶硅太阳能极片方阻测试遇干扰?一个纸箱巧解难题

苏州晶格吴工用遮光“土办法”帮客户拿下精准方阻值

近日,杰智德科技无锡有限公司的技术人员带着一批非晶硅太阳能极片样品,专程赶到苏州晶格,希望借助我们的四探针电阻率测试仪器,完成一次关键的非晶硅极片方阻测试。

 

 

接待他们的是我们经验丰富的吴工。在太阳能极片方阻测试这个细分领域,吴工处理过不少棘手的测样难题,但这次的样品有点特别——非晶硅材料对光线异常敏感。

 

测试一开始,吴工就发现仪器读数总是跳变,数据很不稳定。他判断问题很可能出在环境光上:非晶硅太阳能极片在自然光下会主动吸收光线,产生光生电流,直接干扰电阻率的准确测量。

 

“原理上,非晶硅本身就是光电转换材料,有光没光,测出来的电阻特性完全是两码事。”吴工解释说。

 

 

怎么办?他找来一个普通纸箱,把样品连同测试探头一起罩在箱子里,彻底隔绝外界光线。再重新启动测试,数据果然稳定下来了,重复性也很好。最终,吴工顺利帮客户拿到了准确的方阻值,杰智德科技的技术人员对这次非晶硅太阳能极片方阻测试结果表示满意。

 

这次经历也提醒我们:测非晶硅类材料,遮光是前提。看似不起眼的小细节,往往决定测试的成败。苏州晶格将持续用专业经验,帮客户扫清检测路上的“拦路虎”。


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